SYP-29743 發(fā)動(dòng)機(jī)冷卻液腐蝕測(cè)定儀的實(shí)驗(yàn)方法

本儀器是依據(jù) GB 29743.2-2025 設(shè)計(jì)、制造的。適用于高沸點(diǎn)

和低沸點(diǎn)發(fā)動(dòng)機(jī)冷卻液及其濃縮液，也適用于發(fā)動(dòng)機(jī)冷卻系統(tǒng)防銹劑腐蝕的測(cè)定。

試驗(yàn)方法

B.1 原理

將電車(chē)?yán)鋮s系統(tǒng)使用的典型金屬制成試片,打磨、清洗及稱(chēng)重后,按規(guī)定順序組裝成試片束。放人試驗(yàn)杯中,倒人750mL電車(chē)?yán)鋮s液試樣，移至加熱設(shè)備上，在試驗(yàn)溫度80C士2C、空氣流量100mL/min士10mL./min的條件下,保持336 h士2h。試驗(yàn)結(jié)束后,按要求分別對(duì)金屬試片質(zhì)量變化及電車(chē)?yán)鋮s液性能變化進(jìn)行檢驗(yàn)。

B.4.1 金屬試片準(zhǔn)備

B.4.1.1 試片打磨:用粒度P320防水碳化硅砂紙沿與試片長(zhǎng)邊平行的方向仔細(xì)打磨,去除邊緣及通孔上毛刺,直至試片表面光滑無(wú)氧化層。

B.4.1.2試片清洗:用水沖洗打磨好的試片,然后放人盛有無(wú)水乙醇的玻璃器皿中清洗,取出后用干燥空氣吹干。干燥后的試片,不應(yīng)用手直接接觸.可戴潔凈手套拿取。B.4.1.3 試片稱(chēng)重:用分析天平稱(chēng)量試片,稱(chēng)準(zhǔn)至0.1mg。B.4.1.4試片組裝:在套上絕緣套管的黃銅螺栓上,按下列順序依次裝配:黃銅支架、絕緣墊圈,紫銅試片、黃鋼墊圈、黃銅試片,絕緣墊圈、鋼試片、鋼墊圈、鑄鋁試片、鋼墊圈、3003鋁試片、鋼墊圈,4043鋁試片、鋼墊圈、6063鋁試片、絕緣墊圈、黃銅支架。用螺帽擰緊至試片不松動(dòng),以保證試片束每一部分有良好的電接觸,試片束的組裝見(jiàn)圖B.2。

B.4.2 樣品準(zhǔn)備

電車(chē)?yán)鋮s液試樣用水調(diào)配成33%防凍劑濃度(體積分?jǐn)?shù))的試驗(yàn)溶液,并在每升試驗(yàn)溶液中添加99mg硫酸鈉、110mg氯化鈉以及92mg碳酸氫鈉。

B.5 試驗(yàn)步驟

B.5.1清洗并干燥試驗(yàn)所用的試驗(yàn)杯,橡膠塞、溫度計(jì)、氣體擴(kuò)散管及冷凝管。

B.5.2將組裝好的三組金屬試片束分別放人三個(gè)試驗(yàn)杯內(nèi).再分別向每個(gè)試驗(yàn)杯倒人750mL電車(chē)?yán)鋮s液試驗(yàn)溶液。按圖B.1所示組裝橡膠塞、溫度計(jì)、氣體擴(kuò)散管和冷凝管。冷凝管末端應(yīng)剛好從橡膠塞穿出。氣體擴(kuò)散管擴(kuò)散頭應(yīng)距離試片束至少12.7mm,兩者不應(yīng)直接接觸。B.5.3將試驗(yàn)杯放人加熱設(shè)備上,連接好冷凝水路及氣路。電車(chē)?yán)鋮s液在80C士2C,空氣流量100mL/min士10mL/min條件下,持續(xù)試驗(yàn)336h士2h。試驗(yàn)期間應(yīng)每天檢查試驗(yàn)情況.以確保試驗(yàn)溫度、空氣流量及液面高度符合要求,試樣因蒸發(fā)損失應(yīng)及時(shí)補(bǔ)水B.5.4試驗(yàn)結(jié)束后,取下試驗(yàn)杯冷卻至室溫。取出金屬試片束并解體,用軟毛刷在自來(lái)水下輕輕刷洗每種試片,以除去表面附著的松散腐蝕物。各試片還應(yīng)經(jīng)過(guò)以下清洗處理:

a)紫鋼和黃銅試片:在通風(fēng)櫥中,將試片浸泡在100mL按鹽酸與水1:1(體積比)配制的鹽酸水溶液中15s,以去除表面膜,然后在自來(lái)水下用軟毛刷刷洗;

b) 鋼試片:用黃銅刮刀或黃銅絲刷去除黏附沉積物,然后用軟毛刷刷洗;鑄鋁和鋁合金試片:在通風(fēng)櫥中,將試片浸泡在100mL.按硝酸與水4:1(體積比)配制的硝C)酸水溶液中10min.然后在自來(lái)水下用軟毛刷刷洗。B.5.5 將上述處理后的試片,用無(wú)水乙醇清洗,干燥后稱(chēng)準(zhǔn)至0.1mg。B.5.6 試片清洗空白值的確定:另取一組未經(jīng)試驗(yàn)的試片進(jìn)行清洗空白試驗(yàn),按B.4.1.1~B.4.1.3步驟,每個(gè)試片稱(chēng)準(zhǔn)至0.1mg。然后再將該組試片與試驗(yàn)后的三組試片共同進(jìn)行B.5.4,B.5.5清洗步驟,稱(chēng)準(zhǔn)至0.1mg。取每個(gè)試片清洗前與清洗后的差值,作為該試片的清洗空白值。